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影響焊縫超聲波探傷儀檢測(cè)精度的因素：檢測(cè)對(duì)象、溫度、表面粗糙度、磁場(chǎng)、附著物質(zhì)、缺陷的形狀特征、缺陷的聲阻抗和缺陷的表面特征（如是否光滑）。
1.材料的影響
在鋼這樣的檢測(cè)對(duì)象中，即使其中含有多種不同的合金成分，其聲速也認(rèn)為是基本恒定的。而在其它的許多材料中，如許多非鐵金屬或塑料中，超聲傳播速度的變化是非常顯著的，因而會(huì)影響測(cè)量的精度。如果待檢測(cè)對(duì)象的材料不是各向同性的，那么在不同的方向上聲速就會(huì)不同。在這種情況下必須用檢測(cè)范圍內(nèi)的聲速的平均值進(jìn)行計(jì)算。平均值是通過測(cè)量聲速與待測(cè)試塊的平均聲速相當(dāng)?shù)膮⒖荚噳K而獲得的。
2.溫度的影響
材料的聲速會(huì)隨著材料溫度的變化而發(fā)生變化。如果儀器的校準(zhǔn)是在溫度相對(duì)較低的環(huán)境中進(jìn)行的，而儀器的使用卻在溫度相對(duì)較高的環(huán)境中，這種情況下就會(huì)使檢測(cè)結(jié)果偏離真實(shí)值。要避免溫度的這種影響，方法是校準(zhǔn)儀器前將參考試塊預(yù)熱，以達(dá)到跟使用環(huán)境相同的溫度；或者將測(cè)量結(jié)果乘以一個(gè)溫度影響因子。
3.表面粗糙度的影響
被探傷件的表面粗糙程度對(duì)探傷有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。
4.附著物質(zhì)的影響
探傷前必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器探頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
5.磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾探傷工作。
所有的焊縫探傷儀檢測(cè)缺陷定位都是基于對(duì)超聲回波信號(hào)的測(cè)量。檢測(cè)對(duì)象中聲速是否恒定是影響檢測(cè)結(jié)果精度的一個(gè)重要因素，所以要實(shí)現(xiàn)較高的檢測(cè)精度，需要檢測(cè)對(duì)象中有相對(duì)恒定的超聲傳播速度。
缺陷評(píng)估方法
目前的探傷實(shí)踐中，基本上有兩種不同的缺陷評(píng)價(jià)方法：
1.如果聲束的直徑小于缺陷范圍，那么聲束可以用于探測(cè)缺陷邊界，并確定它的范圍。
2.如果聲束直徑大于缺陷范圍，缺陷最大回波響應(yīng)必須與用于比較的人工缺陷最大回波響應(yīng)相比較。
缺陷邊界法
探頭的聲束直徑越小，通過缺陷邊界法確定的邊界以至缺陷范圍，就越準(zhǔn)確。但是如果聲束相對(duì)較寬，確定的缺陷范圍可能與實(shí)際的缺陷范圍明顯不同。所以，應(yīng)慎重選擇能在缺陷位置得到足夠狹窄集中聲束的探頭。
回波顯示比較法
一個(gè)較小的自然缺陷反射的回波，通常小于一個(gè)人工對(duì)比缺陷（例如同樣大小的圓盤缺陷）反射的回波。這是由于（例如）自然缺陷的表面較粗糙或者由于聲束打到缺陷時(shí)的角度不佳造成的。如果評(píng)價(jià)自然缺陷時(shí)沒有考慮到這一事實(shí)情況，就會(huì)有低估它們當(dāng)量值的危險(xiǎn)。對(duì)于參差不齊或裂開的缺陷，例如鑄件中的收縮孔，可能會(huì)出現(xiàn)缺陷邊界表面的聲散射較強(qiáng)，根本沒有產(chǎn)生回波。在這種情況下，應(yīng)該選擇另外不同的分析方法，例如在分析中使用底面回波衰減法。缺陷回波的距離靈敏度在對(duì)大工件的探傷中扮演了一個(gè)重要角色。在選擇人工對(duì)比缺陷時(shí)要注意，這些缺陷同被評(píng)價(jià)的自然缺陷一樣，可能是由同樣的“距離變化規(guī)律"支配的。焊縫在任何材料中傳播都會(huì)衰減，這種聲衰減的速度通常非常小，例如，由細(xì)密紋理的鋼制成的部件，同樣也包括許多其它材料制成的小部件。但是，如果聲波在材料中要傳播較長(zhǎng)的距離，高度累積的聲衰減就可能產(chǎn)生（即使材料的衰減系數(shù)很?。?。這就會(huì)造成自然缺陷回波顯得太小的危險(xiǎn)。為此，必須在評(píng)價(jià)結(jié)果中對(duì)衰減的影響作出估計(jì)，在需要的時(shí)候給予考慮。如果被測(cè)物體表面粗糙，入射聲能的一部分將在物體表面被散射，影響探測(cè)。散射越厲害，反射回波越小，評(píng)定結(jié)果時(shí)出現(xiàn)的誤差就越大。因此，被測(cè)物體的表面狀況，對(duì)回波高度的影響是重要的。
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